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Title: परिशुद्व 3-डी निर्देशांक मापन मशीन में मापन संबंधी उन्नति
Authors: चौधरी, के पी
बाबू, वीरेन्द
खन्ना, रवि
Issue Date: Jun-2009
Publisher: CSIR
Abstract: निर्देशांक माप विज्ञान द्वारा पदत्त सार्वभौमिकता, नम्यता और यथार्थता का अद्वितीय संगम माप-विज्ञान प्रयोगशालाओं और संस्थानों में किए गए अनुसंधान के कारण संभव हुआ है। सी एम एम हार्डवेयर एवं सॉफ्टवेयर पर कुछ नवीनतम महत्वपूर्ण अनुसंधान और विकास पयत्न, मापन एवं मूल्यांकन तकनीकों का संक्षिप्त उल्लेख इस लेख में किया गया है। इसके अतिरिक्त, कुछ अंतर्राष्ट्रीय और राष्ट्रीय अंततुर्लना पर तथा सी एम एम मापनों पर की गई समीक्षाओं पर भी जानकारी दी गई है। यह जानकारी संभावित अनुसंधान क्षेत्रों की पहचान करने में सहायता कर सकती है।
Description: 64-68
URI: http://hdl.handle.net/123456789/7979
ISSN: 0975-2412 (Online); 0771-7706 (Print)
Appears in Collections:BVAAP Vol.17(1) [June 2009]

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